TT230主要技術(shù)指標(biāo) | |||||||||||||||||
測(cè)量范圍:0~1250μm | |||||||||||||||||
TT230詳細(xì)技術(shù)指標(biāo) | |||||||||||||||||
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UTM-101H 超聲波測(cè)厚儀多少錢 名稱 型號(hào) 頻率 晶片直徑 測(cè)量范圍 說(shuō)明 常規(guī)管測(cè)厚探頭 CT-10 5MHZ Ф10mm 1.2-220mm 用于常規(guī)測(cè)量 小徑管測(cè)厚探頭 XT-6 6MHZ Ф6mm 0.8-50mm 用于測(cè)薄及小徑管測(cè)量 微型測(cè)厚探頭 WT-4 7.5MHZ Ф4mm 2.0-20mm 用于點(diǎn)接觸測(cè)厚,不可做小徑管探頭 鑄鐵測(cè)厚探頭 ZT-12 2.5MHZ Ф12mm 2.0-100mm 可測(cè)各種鑄鐵 中溫測(cè)厚探頭 GT-300 5MHZ Ф10mm 2.0-220mm 上限350℃,需配高溫藕合劑
聯(lián)系人:馬先生 139-5475-7737
TT220涂層測(cè)厚儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介: TT220采用了磁性測(cè)厚法,是一種超小型測(cè)量?jī)x,它能快速、無(wú)損傷、 精頦地進(jìn)行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測(cè)量?蓮V泛用于制造業(yè)、金屬 加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。由于該儀器體積小,測(cè)頭與儀器一體化, 特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。 主要技術(shù)指標(biāo): ◆測(cè)量原理:磁性法 ◆測(cè)量范圍:1~1250μm ◆測(cè)量精度:±(3%H+1)μm(零點(diǎn)校準(zhǔn)) ±[(1~3)%H+1] μm(二點(diǎn)校準(zhǔn)) 主要功能: ◆可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)。 ◆可對(duì)測(cè)頭進(jìn)行基本校準(zhǔn)。 ◆設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)。 ◆可存貯和統(tǒng)計(jì)計(jì)算15個(gè)測(cè)量值。 ◆具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE)。 ◆具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。 ◆刪除功能:對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單次可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測(cè)量。 ◆操作過(guò)程有蜂鳴聲提示。 ◆有欠壓指示功能。 ◆有錯(cuò)誤提示功能。
功能特點(diǎn):
1、自動(dòng)校對(duì)零點(diǎn):可對(duì)系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正;
2、耦合提示、低電壓提示、自動(dòng)關(guān)機(jī)(無(wú)操作三分鐘后)等功能;
3、聲速調(diào)節(jié):可利用已知厚度試塊測(cè)量聲速;
4、數(shù)據(jù)存儲(chǔ):可以存儲(chǔ)10個(gè)厚度值和5個(gè)聲速值;
5、TT100A具有背光功能,適合在光線不好的環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。
技術(shù)參數(shù):
基本配置:
可選附件:
1、TT100/TT100A/TT110/TT120/TT130系列超聲波測(cè)厚儀可選探頭
2、耦合劑
鐵基涂層測(cè)厚儀(6000UM) 型號(hào):鐵基涂層測(cè)厚儀(量程是根據(jù)用戶的要求來(lái)定做的) 型號(hào):M306679 | 貨號(hào): |
功能 測(cè)量導(dǎo)磁物體的非導(dǎo)磁涂層的厚度 測(cè)量范圍 0~6000um 分辨率 0.1/1 度 ±(1~3%n)或±2um 電源 4節(jié)5號(hào)電池 外形尺寸 161X69X32 應(yīng)用 應(yīng)用:測(cè)量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層,例如:漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。 | 產(chǎn)品圖片 ![]() |
CMI900 無(wú)損電鍍 膜厚測(cè)試儀,鍍層測(cè)厚儀 專業(yè)測(cè)量金、銀 鈀 銠 鎳 銅 錫 等貴金屬多鍍層膜厚測(cè)量,快速 無(wú)損,業(yè)內(nèi)廣受好評(píng),客戶應(yīng)
用廣泛在 五金 連接器 PCB LED支架等行業(yè)以形成行業(yè)測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)。歡迎廣大五金連接器客戶聯(lián)系 測(cè)量量樣品 洽談往來(lái) 本公司經(jīng)營(yíng)多年工程師經(jīng)驗(yàn)豐富,商業(yè)合作個(gè)方式靈活。
金屬鍍層厚度測(cè)量, 例如Zn;Cr; Cu; Ag; Au;Sn等 合金(兩樣金屬元素)鍍層厚度測(cè)量, 例如: SnPb; ZnNi; 及NiP(無(wú)電浸鎳)在Fe上等 合金(三檬金屬元素)鍍層厚度測(cè)量, 例如: AuCuCd在Ni上等 雙鍍層厚度測(cè)量, 例如:Au/Ni在Cu 上; Cr/Ni在Cu上;Au/Ag在Ni上;Sn/Cu在黃銅上等 雙鍍層厚度測(cè)量(其中一層是合金層), 例如: SnPb/Ni或Au/PdNi在青銅上等 三鍍層, 例如: Cr/Ni/Cu在塑膠或在鐵上
PCB LED 連接器等行業(yè) gold flash/ Nip / Cu 或 Au / Pdni / Cu ~~ Ag / Ni / Cu / Ni / Cu 等常見(jiàn)應(yīng)用
儀器介紹CMI 900 系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層 厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域
,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析.基于WindowsXP中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包,實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900主機(jī)的自動(dòng)化控制, PCB 五金 LED 連接器 表面處理等行業(yè)技術(shù)參數(shù):CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x,在技術(shù)上一直以來(lái)都領(lǐng)先于全世界的測(cè)厚行業(yè)A CMI 900 能夠測(cè)量包含原子序號(hào)22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測(cè)量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測(cè)定最多5層、15 種元素。B :精確度領(lǐng)先于世界,精確到0。025um (相對(duì)與標(biāo)準(zhǔn)片)C :數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式,以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求 ;如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。D :統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X
-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀各種尺寸的樣品;E :可測(cè)量任一測(cè)量點(diǎn),最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米牛津儀器CMI900電鍍膜厚測(cè)量?jī)x
概述TT210涂層測(cè)厚儀是磁性、渦流一體的便攜式覆層測(cè)厚儀,它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量;既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng);廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域;是材料保護(hù)專業(yè)必備的儀器。TT210涂層測(cè)厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn): GB/T4956-1985 磁性方法 GB/T4957-1985 渦流方法 JB/T8393-1996 磁性和渦流覆層測(cè)厚儀 JJG889-95 《磁阻法測(cè)厚儀》 JJG818-93 《電渦流式測(cè)厚儀》 功能特點(diǎn)1.采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,可無(wú)損地測(cè)量2.磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金等)上非磁性覆層厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等) 3.非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層厚度(如:橡膠、油漆、陽(yáng)極氧化膜等) 4.具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE) 5.具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl) 6.設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差 7.可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正 8.具有存貯功能:可存貯500 個(gè)測(cè)量值 9.具有刪除功能:對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù) 10.可設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警;并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析 11.具有打印功能:可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖 12.具有電源欠壓指示功能 13.操作過(guò)程有蜂鳴聲提示 14.具有錯(cuò)誤提示功能,通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示 15.設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式 技術(shù)參數(shù)1.測(cè)頭類型:F | N 2.測(cè)量原理:磁感應(yīng) | 電渦流 3.測(cè)量范圍:0-1250um | 0-1250um 0-40um(銅上鍍鉻) 4.低限分辨力:0.1um 5.探頭連接方式:一體化 6.示值誤差:F | N 7.一點(diǎn)校準(zhǔn)(um):±[3%H+1] 8.兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um):±[(1%~3%)H+1] 9.一點(diǎn)校準(zhǔn)(um):±[3%H+1.5] 10.兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um):±[(1%~3%)H+1.5] 11.測(cè)量條件:F | N 12.最小曲率半徑(mm):凸1.5 | 凹9 13.基體最小面積的直徑(mm):ф714.最小臨界厚度(mm):0.5 15.最小曲率半徑(mm):凸3 | 凹1016.基體最小面積的直徑(mm):ф517.最小臨界厚度(mm):0.3 18.溫濕度:0~40℃ | 20%RH~90%RH 19.統(tǒng)計(jì)功能:平均值、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差 20.工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl) 21.測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE) 22.上下限設(shè)置:有 23.存儲(chǔ)能力:500個(gè)測(cè)量值 24.打印/連接計(jì)算機(jī):可選配打印機(jī)/不能連接電腦 25.關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)和自動(dòng) 26.電源:二節(jié)AAA型(7號(hào))1.5V電池 27.外形尺寸:110×50×23mm 28.重量:100g 基本配置1.主機(jī)、 2.鐵基體和鋁基體、3.標(biāo)準(zhǔn)片一套、 4.二節(jié)
主要技術(shù)指標(biāo) 使用環(huán)境溫度:0~40℃ 電源:鎳氫電池5×1.2V 600mAH 外型尺寸:270×86×47mm 重量:530g 測(cè)量范圍: 0—1250μm
主要功能 可使用6種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)進(jìn)行測(cè)量; 三種校準(zhǔn)方法: 一點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn)、基本校準(zhǔn);
顯示分辨率: 0.1μm(測(cè)量范圍小于100μm) 1μm (測(cè)量范圍大于100μm) 設(shè)五個(gè)統(tǒng)計(jì)量,存儲(chǔ)495個(gè)數(shù)據(jù) 有兩種工作方式:直接方式和成組方式 有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量和單次測(cè)量 有兩種關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)關(guān)機(jī)和自動(dòng)關(guān)機(jī) 可設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警,并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析; 有刪除功能:對(duì)粗大誤差及錯(cuò)誤設(shè)置可進(jìn)行刪除處理; 打印功能:可打印測(cè)量測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖